测厚仪CHY-U适用薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度精确测量。是一款超高测试精度的全自动测厚仪，测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。
测试原理
 
    测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。
 
应用范围
 

产品图片	产品名称	适用范围
	薄膜	用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度精确测量。
	铝箔	对金属箔片等硬质材料厚度精确测量。
	太阳能硅片	接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值。
	纸张	通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张、纸板材料厚度测试。

 
 
技术特征
★微电脑控制、大液晶显示
★进口高精度传感器，保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持 各种非标定制
★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择
★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印， 方便快捷地获取测试结果
★打印最大值、最小值、平均值及每次测量结果，方便 用户分析数据
★仪器自动保存最多100组测试结果，随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差最小
★专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将 测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和 数据传输
 
主要参数
 

技术参数
测量范围	0-2mm （其他量程可定制）
分辨率	0.1um
测量速度	10 次/分（可调）
测量压力	17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积	50mm2（薄膜），200mm2（纸张）    注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩	0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度	0 ～ 120 mm/s(可调)
外形尺寸	450mm×340mm×390mm
重量	23kg
环境要求
环境温度	15℃-50℃
试验环境	无震动，无电磁干扰
相对湿度	最高80%，无凝露
工作电源	220V,50Hz

 
标     准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、T APPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
 
配      置
    
标准配置：测厚仪主机、标准量块、微型打印机
选用配置：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器